Contrôleur & amplificateur de microscopie à balayage
Des produits innovants conçus pour offrir des performances élevées à des prix abordables.
Parlez nous de votre projetLes contrôleurs & amplificateurs de microscopie à balayage
Publication (anglais):
Dr. Percy Zahl, Dr Thorsten Wagner
GXSM – Smart & Customizable SPM Control, Ideal for STM+AFM Control Allowing Complex Data Acquisitions,
Imaging & Microscopy, Jan. 26, 2015
Liste de références:
Asie
Kochi University, Japan
ESE Co., Ltd., Vietnam
Canada
Acadia University, Nova Scotia
McGill University, Quebec
Queen University, Ontario
Europe
Allemagne
Bonn University
Bremen University
Christian-Albrechts-University
Dresden University
Duisburg-Essen University
Erlangen University
Hannover University
Kiel University
Konstanz University
Max-Planck-Institut
Münster University
Oldenburg University
Paul-Drude Institut
Ruhr-University Bochum
Ulm University
Suisse
EPFL
IBM Research,
EMPA
France
CNRS , France
Université de la Méditerranée, France
Royaume-Uni
Waterford Institute of Technology, Irelande
Cardiff University, Royaume-Uni
Autres (Europe)
Instituto de Quimica-Fisica Rocasolano, Espagne
Jagiellonian University, Pologne
Scandinavie
Lulea University of Technology, Suède
Norwegian University of Science & Technology, Norvège
Royal Institute of Technology (KTH), Suède
University of Iceland, Islande
Amérique du sud
Brazilian Synchrotron
National Laboratory,
Brésil
États Unis
Argonne National Laboratory
Arizona State University
Brookhaven National Laboratory
Colorado School of Mines
Johns Hopkins University
Louisiana State University
Maryland Procurement Office
North Texas University
University of New Hampshire
University of Pittsburgh
University of Virginia
West virginia University
Yale University
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